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【好书推荐】值得深读的EMC参考书籍

以下排序不分先后,都是好书!

书名:Electromagnetic Compatibility Engineering

作者:Henry W. Ott

这本书的讨论重点放在了经济高效的EMC设计上,并将数学的数量和复杂度保持在最低限度,辅以 250 多个带有答案的问题,为读者提供了设计与电磁环境兼容并符合国家和国际 EMC 法规的电子设备所需的知识。对于面临 EMC 和法规遵从性问题的执业工程师来说,它是必不可少的参考资料,也是高级本科生和研究生阶段电气课程的理想教科书。

书名:EMI Troubleshooting Cookbook for Product Designers

作者:Patrick G. André and Kenneth Wyatt

这本书详细讲述了产品的电磁干扰故障排除技术,其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、方法或诊断工具,内容包括电磁基础、测量仪器、辐射发射、传导发射、辐射敏感度、传导敏感度、静电放电、浪涌和雷电脉冲的瞬态抑制等,为设计者提供了一些有价值的设计实践信息。

书名:Getting EMC Design Right First Time

作者:M. Rangu

这本书总结了一些PCB设计过程中必须要知道的EMC跳坑原则,内容以设计实践为主,较少涉及理论,是一本不错的电气、EMC和PCB工程师设计参考资料。

书名:EMC for Product Designers

作者:Tim Williams

这本书展示了如何将EMC原则纳入产品设计过程,避免成本和性能损失,满足特定标准的需求,从而产生更好的整体产品,内容除了涵盖最新的法律要求外,还涉及根据EMC合规性和产品设计方面的最佳实践。

书名:Printed Circuit Board Design Techniques for EMC Compliance: A Handbook for Designers

作者:Mark I. Montrose

这本书重点在于教授如何用最少的理论和数学知识来解决复杂的EMC问题,讨论主题包括:IO互连、静电放电保护、旁路和去耦、电缆、时钟电路等,这是一本以规则为导向的书籍,便于快速地设计查询和参考,内容通俗易懂,是电气、EMC和PCB工程师的理想设计参考手册。

书名:Signal Integrity and Radiated Emiision of High-Speed Digital Systems

作者:Spartaco Caniggia

本书涵盖高速数字系统中的反射、串扰、开关噪声和辐射发射等主题,在简要介绍了数字系统中的信号和辐射干扰之后,通过分析、图形和基于电路的方法研究了多耦合线路结构中的串扰,并提供了抑制这些现象的技术,此外,还涉及了多层PCB的接地、滤波和屏蔽内容,并给出了设计规则。通过使用大量的测量和模拟,从理论和实践的角度解释基本的概念问题,对于信息技术、电信设备和自动化设备的工业设计人员以及开发工程师来说都是宝贵的资源,但是,需要读者具备一定的电磁理论基础。

书名:PCB Design for Real-World EMI Control

作者:Bruce R. Archambeault

这本书阐述了很多EMI的基本概念,阅读本书可以知道需要如何做好PCB的EMI设计和其背后的工作原理,对于电子、PCB、EMC工程师都是很好的入门性读物。

书名:Electromagnetic Compatibility Principles and Applications

作者:David A. Weston

这本书以工程实践为主轴,利用大量有价值的实测数据、图表、曲线、研究案例以及一些经过实践的技术细节来说明电磁兼容技术的原理与应用。主要内容包括电磁兼容的基本概念和原理,各种电磁干扰产生的机理和模型,减少干扰及提高抗扰度的方法,电磁场的生物效应,系统的电磁兼容性和天线耦合分析,电磁兼容性的预估和计算机电磁建模的方法以及各种民用与军用电磁兼容标准的控制要求和测试方法,是一本实用的设计参考书。

书名:EMC电磁兼容设计与测试案例分析

作者:郑军奇

这本书以EMC案例分析为主线,通过案例描述、分析来介绍产品设计中的EMC技术,向读者介绍产品设计过程中有关EMC的实用设计技术与诊断技术,以规避设计人员在产品的设计与问题诊断中的误区。书中所描述的EMC案例涉及结构、屏蔽与接地、滤波与抑制、电缆、布线、连接器与接口电路、旁路、去耦与储能、PCB,以及器件、软件与频率抖动技术等各个方面,可作为电气工程师进行EMC培训的教材或参考资料。

书名:Basic ESD and I/O Design

作者:Sanjay Dabral

第一本专门介绍 ESD(静电放电)保护和输入/输出设计的书籍。它满足了工业界对高速I/O设计日益增长的需求,弥合了ESD研究与当前VLSI设计实践之间的差距,并为在工作中经常被要求学习该主题的执业工程师提供了急需的参考。它研究了 I/O 和 ESD 设计和测试中的关键因素,并帮助读者在做出 I/O 选择时预先考虑 ESD 和可靠性问题。

书名:ESD in Silicon Integrated Circuits

作者:E. Ajith Amerasekera

这本书全面地解释了静电放电 (ESD) 集成电路的设计和开发中的应用和影响,强调了可靠性和评估保护电路性能的测试方法的关键问题。各种案例研究说明了各种设计方法的效果,并通过应力分析实现了保护电路的有效性,理论和实践结合,非常值得一读。


http://www.mrgr.cn/news/4422.html

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